| 〔電容〕： |
| 1. 小電容並聯大電容：C1＝1nf ， C2＝1uf （相差10倍以上），C1《《 C2 ， C1無法準確測量。 |
| 2. 電容並聯電感：需用交流電信號以相位分離法檢測，但有誤差，不易測出。(電容並聯小電阻) |
| 3. 小電容300PF：標準值易偏高，較受旁路干擾，標準值易變更、不穩。 |
| 4. 電容極性裝反：（他牌之可測率約30～50%，視線路特性而定）,ADSYS ECJ技術100%檢測,無誤漏判。 |
| 〔電容〕： |
| 1. 電阻並聯電容：因為電容之充放電效應,測量值轎標準值偏低，延遲時間不可超過500 M Sec 重覆測試不可超過5次，測試較不穩。 |
| 2. 電阻並聯電阻：測量值Rx＝R1*R2／(R1+R2)＝須修改標準值，並聯電阻若有誤差值，不易測試出。 |
| 3. 電阻並聯電感：在直流信號源下是近似短路，所以無法被準確測出。 |
| 4. 電阻並聯跳線：所有的電流皆流經跳線，所以電阻無法被測出。 |
| 5. 小電阻並聯大電阻：大電阻無法量測。（相差20倍以上） |
| 〔二極體〕： |
| 1. 二極體與電感並聯：二極體無法準確測量。 |
| 2. 二極體與跳線或保險絲並聯：二極體無法準確測量。 |
| 3. 齊納二極體( Zener Diode )：量測電壓為它的崩潰電壓，超過系統量測範圍。(他牌未加高壓測試電路板的機型為10V） |
| 4. 二極體並聯二極體：無法測量,ADSYS可以用DR Mode測試,可以準確量測。 |
| 〔其它〕： |
- 振盪器(XTAL)功能是否正常。(振盪器是以小電容方式作量測,4MHz以下可以量測漏件)
- IC之保護二極體並聯本身或其它IC之保護二極體，致IC腳空焊或折腳無法量測。
- 單端點之線路斷線無法測試。
|
| 單端點之線路斷線無法測試。 |
解 決 方 案 |
| 系 新 |
他 牌 |
電
容 |
電解電容極性 |
可測率100%，不漏判 |
可測率低於50%，會漏判 |
| 電容並聯電感 |
測試頻率達2MHz，盲點範圍較小 (測Z時，測量信號避開諧振點) |
測試頻率僅1MHz，盲點範圍較大 (測Z時，測量信號避開諧振點) |
| 小電容300p |
2MHz高頻信號源較易測試除非實際線路構成測試盲點，否則測試上不成問題 |
僅1MHz信號源，較難測試 |
| 小電容並聯大電容 |
電路原理盲點 |
電路原理盲點 |
電
阻 |
電阻並聯電容 |
測Z有機會，並聯大電容較花時間 |
Ｘ |
| 小電阻並聯大電阻 |
測等值電阻，要靠測試精度抓大電阻問題，小電阻測得到沒問題 |
Ｘ |
| 電阻並聯電感 |
電路原理盲點 |
電路原理盲點 |
| 電阻並聯跳線 |
電路原理盲點 |
電路原理盲點 |
二
極
體 |
二極體與電感並聯 |
電路原理盲點 |
電路原理盲點 |
| 二極體與跳線或保險絲並聯 |
電路原理盲點 |
電路原理盲點 |
| 齊納二極體( Zener Diode ) |
電路原理盲點 |
電路原理盲點 |
| 二極體併二極體 |
只能當作一個測,無法100%完整測試,另外一只反向測不出(aoi有解) |
Ｘ |
| |
盪器(XTAL)功能是否正常 |
電路原理盲點 |
電路原理盲點 |
| IC之保護二極體並聯本身或其它IC之保護二極體 |
電路原理盲點 |
電路原理盲點 |
| 單端點斷線 |
要植針才會Show出,或斷線端有可測零件時會測出該元件故障,不會指示開路 |
Ｘ |
|
